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CONTROL ESTADÍSTICO CON SPSS

GESTIÓN DE LA SEGURIDAD Y SALUD OCUPACIONAL BASADO EN EL REGLAMENTO DE SEGURIDAD Y SALUD OCUPACIONAL Y POLÍTICA DE SEGURIDAD Y SALUD OCUPACIONAL
LEAN MANUFACTURING

S/109.00

🕐 𝗛𝗼𝗿𝗮𝗿𝗶𝗼: Acceso a la plataforma 24 horas al día

➡️𝐌𝐨𝐝𝐚𝐥𝐢𝐝𝐚𝐝: Asincrónico

➡️Certificación: 40 horas

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AUSPICIOS

Colegio de Ingenieros del Perú CD Huánuco
MODALIDAD

Asincrónico
SECTOR

AGROINDUSTRIA Y ALIMENTARIA, CONSTRUCCIÓN, MINERÍA Y AFINES, OTROS
TIPO

Curso de Especialización

Promoción

Estamos en promoción. SOLO paga por 2 y el 3ero es GRATIS. S/. 99 Soles cada uno para certificaciones a nombre de Consultoría e Ingeniería TQI EIRL y S/. 109 Soles cada uno a nombre del COLEGIO DE INGENIEROS DEL PERÚ CONSEJO DEPARTAMENTAL HUÁNUCO.

 

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Temario

1. VARIABILIDAD Y PENSAMIENTO ESTADÍSTICO
  • Concepto de variabilidad en los procesos de las empresas.
  • Principios del pensamiento estadístico (sistemas interconectados, existencia de variación, reducción de variación).
  • Niveles de aplicación: Estratégico, Directivo y Operacional.
2. INTRODUCCIÓN A LAS CARTAS DE CONTROL
  • Objetivo básico y comportamiento de un proceso a través del tiempo.
  • Variación por causas comunes frente a causas especiales.
  • Estructura de las cartas de control de Shewhart (Límite Control Inferior, Línea Central, Límite Control Superior).
3. CLASIFICACIÓN DE LAS CARTAS DE CONTROL
  • Cartas de control para variables (características continuas).
  • Cartas de control para atributos (características cualitativas o de conteo).
4. CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES
  • Carta X-bar – R (Medias y rangos).
  • Carta X-bar – S (Medias y desviaciones estándar).
  • Carta de individuales (Medidas individuales y rango móvil).
5. INTERPRETACIÓN DE CARTAS DE CONTROL Y CAUSAS DE INESTABILIDAD
  • Análisis de zonas en una carta de control.
  • Patrones de comportamiento no aleatorio: cambio de nivel, tendencias, ciclos recurrentes, alta variabilidad y falta de variabilidad.
  • Cálculo e interpretación del Índice de inestabilidad (St).
6. CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS
  • Cartas para unidades defectuosas: Carta p (proporción de artículos defectuosos) y Carta np (número de unidades defectuosas).
  • Cartas para defectos: Carta c (número de defectos) y Carta u (número de defectos por unidad).
7. CAPACIDAD DE PROCESOS
  • Concepto de capacidad y análisis de la variación natural de un proceso frente a las especificaciones.
  • Índices de capacidad del proceso (Cp, Cpl, Cpu, Cpk, Cpm).
  • Evaluación del porcentaje esperado versus observado fuera de los límites de especificación (LSL, USL).

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